X線頭影測量概述
X線頭影測量是對頭部進行投影測量,用于檢查顱面生長情況和畸形的重要手段。
X線頭影測量正常值
檢查中沒有發(fā)現(xiàn)異常陰影和圖樣。
X線頭影測量臨床意義
異常結果:
1.研究顱面生長發(fā)育X線頭影測量是研究顱面生長發(fā)育的重要手段,一方面可通過對各年齡階段個體作X線頭影測量分析,從橫向研究顱面生長發(fā)育,同時也可用于對個體不同時期的測量分析,而作顱面生長發(fā)育的縱向研究。
2.牙頜、顱面畸形的診斷分析通過X線頭影測量對顱面畸形的個體進行測量分析,可了解畸形的機制、主要性質及部位,是骨骼性畸形抑或牙 合性畸形,使對畸形能作出正確的診斷。
3.確定錯合畸形的矯治設計從X線頭影測量分析研究中得出正常 合關系可存在于各種不同的顱面骨骼結構關系中,而一些牙齒的位置能在一定的頜面結構下得到穩(wěn)定,因而當通過測量分析牙頜、顱面結構后,根據(jù)錯合的機制,可確定頜位及牙齒矯治的理想位置,從而制定出正確可行的矯治方案。
4.研究矯治過程中及矯治后的牙頜、顱面形態(tài)結構變化X線頭影測量亦常用作評定矯治過程中,牙頜、顱面形態(tài)結構發(fā)生的變化,從而了解矯正器的作用機制和矯治后的穩(wěn)定及復發(fā)情況。如關于口外支抗唇弓矯正器及下頜頦兜矯正器等對牙頜、顱面結構的作用及變化,都是在使用X線頭影測量以后才得以明確和澄清的。
5.外科正畸的診斷和矯治設計通過X線頭影測量對需進行外科正畸的嚴重顱面畸形患者進行顱面軟硬組織的分析,得出畸形的主要機制,以確定手術的部位、方法及所需移動或切除頜骨的數(shù)量,同時應用X線頭影圖跡進行剪裁,模擬拼對手術后牙頜位置,得出術后牙頜、顱面關系的面型圖,為外科正畸提供了充分的根據(jù),從而提高了其診斷及矯治水平。
6.下頜功能分析X線頭影測量還可以用來研究下頜運動,語言發(fā)音時的腭功能以及息止合間隙等方面的功能分析。也有用于下頜由息止位至咬合時髁突、頜位等位置運動軌跡的功能研究。
需要檢查的人群:顱面生長異常,面部畸形的人群。
X線頭影測量檢查方法
進入X線檢查室,端坐在檢查檢查儀器前,臉部側面正對X線儀,進行拍片。
X線頭影測量注意事項
不合宜人群:孕婦,青少年。
檢查前禁忌:X射線有一定輻射,需要作好心理準備。治療診斷要求必須做X射線檢查,應穿戴鉛保護用品。應對非受照部位,特別是性腺、甲狀腺等對X射線反應敏感的部位進行防護,穿戴防護設備。
檢查時要求:聽從醫(yī)生吩咐進行檢查。X射線機處于工作狀態(tài)時,放射室門上的警告指示燈會亮,此時候診者,一律在防護門外等候,不要在檢查室內等候拍片?;颊邲]有特別需要陪護的情況下,家屬不要進入檢查室內陪同,以減少不必要的輻射。